JTAG信號

時間:2017-10-10 14:09:45

TCK:測試時鐘輸入,用于移位控制,上升沿將測試指令、測試數據

和控制輸入信號移入芯片;下降沿時將數據從芯片移出。

  

TMS:測試模式選擇,串行輸入端,用于控制芯片內部的JTAG狀態機。

  

TDI:測試數據輸入,串行輸入端,用于指令和編程數據的輸入,在時鐘上升沿,數據被捕獲。

 

TDO:測試數據輸出,串行輸出端,時鐘下降沿,數據被驅動輸出。

 

TRST:測試復位輸入(僅用于擴展JTAG),異步、低電平有效,用于JTAG初始化時。

? 江苏快3号码表